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軍標GJB150A低氣壓(高度)試驗-高海拔測試機構

 2022-03-11   閱讀:403次    來源:深圳安車昇輝檢測  

隨著航天航空和海洋開發事業的迅速發展,隨著電工電子產品在各個方面的廣泛應用,產品所遇到的環境條件變得日益復雜和多樣,大氣壓力的變化就是其中之一。低氣壓試驗低溫低氣壓綜合試驗介紹

一、低氣壓試驗目的

低氣壓試驗是確定產品在低氣壓氣候環境下儲存、運輸、使用的適應性。

低氣壓試驗的嚴苛程度取決于溫度、氣壓和曝露持續時間。

二、低氣壓試驗的國家標準有:

GB2421-1989《電工電子產品基本環境試驗規程總則》

GB2423.21-1991《電工電子產品基本環境試驗規程試驗M:低氣壓試驗方法》

GB/T2423.25-1992《電工電子產品基本環境試驗規程試驗Z/AM:低溫/低氣壓綜合試驗方法》

GB/T2423.26-1992《電工電子產品基本環境試驗規程試驗Z/BM:高溫/低氣壓綜合試驗方法》

GB2423.27-2005《電工電子產品基本環境試驗規程試驗Z/AMD:低溫/低氣壓/濕熱連續綜合試驗方法》

GB/T2424.15-1992《電工電子產品基本環境試驗規程溫度/低氣壓綜合試驗導則》

GJB150.2-86《軍用設備環境試驗方法低氣壓(高度)試驗》

深圳安車昇輝檢測低氣壓試驗箱,溫度范圍覆蓋-70℃至150℃,氣壓范圍覆蓋0.2kPa至101kPa要用于考核航空航天裝備、電子元器件或者其他產品在低氣壓、溫濕度綜合作用下的可靠性,可開展低氣壓試驗、高溫低氣壓、低溫低氣壓、快速減壓試驗等試驗項目。



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